IRChNUT
Електронний архів Національного університету "Чернігівська політехніка"

Evaluation of reliability of injury in the finish formulation of optical surfaces of borosilicate glass with semiconductor CdS nanocrystals at the execution of the machining processes

ISSN 2415-363X

Показати скорочений опис матеріалу

dc.contributor.author Проць, Л. А.
dc.contributor.author Лавріненко, В. І.
dc.contributor.author Молчанов, В. Ф.
dc.contributor.author Солод, В. Ю.
dc.date.accessioned 2021-02-25T08:19:27Z
dc.date.available 2021-02-25T08:19:27Z
dc.date.issued 2018
dc.identifier.uri http://ir.stu.cn.ua/123456789/21373
dc.description Prots, L. A. Evaluation of reliability of injury in the finish formulation of optical surfaces of borosilicate glass with semiconductor CdS nanocrystals at the execution of the machining processes / L. F. Prots, V. I. Lavrinenko, V. F. Molchanov, V. Yu. Solod // Комплексне забезпечення якості технологічних процесів та систем (КЗЯТПС – 2018) : матеріали тез доп. VІІІ Міжнар. наук.- практ. конф. (м. Чернігів, 10-12 трав. 2018 р.) : у 2-х т. – Чернігів : ЧНТУ, 2018. – Т. 1. – С. 179-180. en_US
dc.description.abstract Surfaces of borosilicate glass with semiconductor CdS nanocrystals, the parameter Rmax is affected by the particle size of the abrasive slurry, their amount in the coolant and the probability of wedging of particles in the contact zone. As these factors increase, the Rmax roughness parameter increases, which worsens the overall roughness of the treated surfaces and optical purity for the active surfaces of borosilicate glass elements with semiconductor CdS nanocrystals. en_US
dc.language.iso en en_US
dc.publisher Чернігів : ЧНТУ en_US
dc.subject borosilicate glass en_US
dc.subject nanocrystals cds en_US
dc.title Evaluation of reliability of injury in the finish formulation of optical surfaces of borosilicate glass with semiconductor CdS nanocrystals at the execution of the machining processes en_US
dc.type Working Paper en_US


Долучені файли

Даний матеріал зустрічається у наступних розділах

Показати скорочений опис матеріалу